电场对负性向列相液晶薄盒影响的研究

• 作者: 孙洋 张志东 张晶 陈思博
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 物理学
• 关键词: Landau-Gennes理论 负序参数单轴态 本征值交换 临界盒厚
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 196-205
• 页数: 10页
• 分类号: O753.2
• 字数: 4061字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20173203.0196

摘要

基于Landau-de Gennes理论,利用松弛迭代法,研究了电场对垂直排列(VA)液晶薄盒和反扭曲向列相(ITN)液晶薄盒的影响.两系统在相同条件下的倾角变化相同,且系统双轴性与本征值的变化只取决于倾角的变化.研究表明,当盒厚大于一定临界值时,液晶系统一直处于正序参数态,此时ITN 薄盒的扭曲角由线性排列逐渐变化到呈45°角排列;当小于此临界盒厚时,在一定电压下会出现负序参数单轴态,此时ITN薄盒的扭曲角会偏离线性变化出现回滞.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志东	河北工业大学理学院	120	424	10.0	13.0
2	张晶	河北工业大学理学院	22	52	5.0	6.0
3	陈思博	河北工业大学理学院	4	4	1.0	1.0
4	孙洋	河北工业大学理学院	1	2	1.0	1.0