粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙和二氧化硅

• 作者: 万双 兰福荫 刘天一 刘恩举 李先和
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 粉末压片法 生石灰粉
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34|TH744.16
• 字数: 2001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2017.02.009

摘要

采用粉末压片法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙、二氧化硅的分析方法.由于没有国家标准样品,采用自制生石灰粉标准样品绘制工作曲线.考察了样品粒度及吸潮对分析结果的影响.实验表明,在样品粒度为74 μm、压样机压力为12 MPa、压制时间为45 s的制样条件下荧光计数率最稳定,在30 min内测定样品效果最佳.采用α理论系数法和经验系数法相结合校正基体影响.对同一生石灰粉样品进行精密度实验,各组分的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.04%~0.43%.测定了5个生石灰粉样品,所得结果与常规化学分析方法测定值相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	兰福荫		3	4	1.0	2.0
2	刘天一		2	4	1.0	2.0
3	李先和		16	19	4.0	4.0
4	万双		16	18	4.0	4.0
5	刘恩举		1	4	1.0	1.0