基于ATE的SRAM测试

• 作者: 奚留华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ATE SRAM 测试 功能 交流参数
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: TN307
• 字数: 3408字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的飞速发展,SRAM的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛的重视和研究.简要介绍了SRAM的重要组成部分,提出了一种ATE对SRAM测试的方法.SRAM的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的.以IS61LV51216-10TLI为例,其功能测试是通过UltraEdit软件编辑生成测试码,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能.主要论述了SRAM功能及交流参数的测试关键技术及其注意事项.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	奚留华	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	4	1.0	1.0