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摘要:
根据电荷转移效率的测试原理,基于宇宙射线高能粒子入射对CCD图像的影响,提出了一种基于高能粒子入射产生亮线的CCD电荷转移效率计算方法,对高能粒子入射产生的12条瞬时亮线进行了计算分析,获得了一致性较好的CCD电荷转移效率.该方法可实时评价电荷耦合器件的在轨性能,对预测CCD成像性能退化情况和使用寿命都具有重要意义.
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文献信息
篇名 基于高能粒子入射产生亮线的CCD电荷转移效率计算方法
来源期刊 现代应用物理 学科 工学
关键词 宇宙射线 高能粒子 电荷耦合器件 电荷转移效率
年,卷(期) 2017,(4) 所属期刊栏目 辐射效应及加固技术
研究方向 页码范围 28-31
页数 4页 分类号 TP211.6|O472.8
字数 1370字 语种 中文
DOI 10.12061/j.issn.2095-6223.2017.040602
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研究主题发展历程
节点文献
宇宙射线
高能粒子
电荷耦合器件
电荷转移效率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代应用物理
季刊
2095-6223
61-1491/O4
大16开
西安市69信箱15分箱
2010
chi
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533
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