残余应力分析方法比较:X射线衍射法与应力释放法

• 作者: 李喜德 金鹏
• 来源期刊: 实验力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 残余应力 X射线衍射 环芯法
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 页码范围: 645-651
• 页数: 7页
• 分类号: O34
• 字数: 5847字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7520/1001-4888-17-308

摘要

残余应力分析方法主要有衍射法、应力释放法和声、光、磁等方法.其中,X射线衍射法与应力释放中的钻孔技术与理论最为成熟,应用最广.在应力均匀且数值较小时,两者可以给出相互接近的结果.然而当样品微小且微观结构复杂时,两者给出的结果会有明显的差异.本文利用上述两种方法对同一纯铜样品表面的残余应力进行分析,对比分析结果并讨论了相关的影响因素.我们对X射线衍射法与环芯法的适用性进行了讨论:前者适用于晶体材料的无损检测,而后者更能反映当前应力水平.此外,对方法的选用需要考虑应力测试的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李喜德	清华大学航天航空学院	23	311	11.0	17.0
2	金鹏	清华大学航天航空学院	6	96	3.0	6.0