用于DP-QPSK系统的高速ADC的验证方法

• 作者: 陈哲
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双偏振正交相移键控 模数转换芯片 光信噪比
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 光器件
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN915.62
• 字数: 2512字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2017.05.009

摘要

介绍了一种在高速相干光通信系统中验证模数转换芯片(ADC)的方法.该方法将待测ADC的数据导入Optisystem软件中对112Gb/s双偏振正交相移键控(DP-QPSK)的系统进行仿真.验证了该方法的可行性,并对33GS/s6比特的ADC的光信噪比(OSNR)容限测试结果进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈哲		1	0	0.0	0.0