航天继电器多参数贮存寿命加速退化预测方法研究

• 作者: 李文华 沈培根 马思宁
• 来源期刊: 电气工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命预测 退化距离 多特征参数 主元分析
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 22-27
• 页数: 6页
• 分类号: V442|TM5
• 字数: 3856字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11985/2017.01.004

摘要

航天继电器在国防、航天工业等重要领域使用范围十分广泛,因此,为了提高航天继电器的可靠性,研究其贮存寿命具有十分重要的意义.目前,基于性能退化数据的大多文献局限于研究单个特征参数的情况,然而许多产品具有多个性能退化特征量.针对航天继电器具有多个性能参数的特点,本文提出了退化距离分析法,并在此基础上引入主元分析法(PCA),融合了多个特征参数,给出了参数权重因子求解方法.文中选择了航天继电器的接触电阻Rj、吸合时间Tx和释放电压Us这三个参数,通过该方法实现了贮存寿命预测,并选取实测数据对该方法进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文华	河北工业大学电气工程学院	69	428	12.0	18.0
2	马思宁	河北工业大学电气工程学院	3	9	2.0	3.0
3	沈培根	河北工业大学电气工程学院	3	9	2.0	3.0