高频红外碳硫仪法测银石墨合金中的C含量

• 作者: 廖思远 杜俐颖 甘启达
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 高频红外碳硫仪 碳 银石墨电触头
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TM205.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2017.04.005

摘要

C是银石墨电触头中的重要组分,对电触头的性能起着决定性的作用.研究了用高频红外碳硫仪测银石墨合金中的C含量的方法,对试样加入量、校正标准样品、空白值、助熔剂等影响因素进行了试验,确定了最佳分析条件,该方法快速准确、实用性强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖思远		3	2	1.0	1.0
2	甘启达		2	0	0.0	0.0
3	杜俐颖		1	0	0.0	0.0