应用于OTP单元的高可靠性MTM反熔丝特性

• 作者: 徐海铭 洪根深 王印权 郑若成
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 反熔丝 编程 OTP MTM
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TN403
• 字数: 2467字
• 语种: 中文

摘要

主要研究了一种新型MTM反熔丝结构的电特性,未编程反熔丝漏电和击穿以及编程特性,有助于电路的编程电流设计,也为反熔丝击穿和漏电的标准制定提供参考.该研究对电极和温度特性的应用也有十分重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪根深		33	74	5.0	6.0
2	郑若成		20	44	4.0	5.0
3	王印权		7	10	2.0	3.0
4	徐海铭		11	14	2.0	3.0