不同电流下钯触头材料熔桥行为研究

• 作者: 崔浩 方继恒 王塞北 王松 胡洁琼 谢明 陈松 陈永泰 陈静洪
• 来源期刊: 贵金属
• 学科: 工学
• 关键词: 金属材料 钯触头材料 熔桥 高速摄像
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 40-45
• 页数: 6页
• 分类号: TM206
• 字数: 2772字
• 语种: 中文

摘要

用自制的电接触-高速摄像试验系统观测了钯触头材料在直流单分断模式下的电接触过程中的熔桥行为,用SEM分析触头表面形貌.结果表明,熔桥演化过程可分为熔桥形成、熔桥拉长和熔桥断开3个阶段,历时约2.08 ms;熔桥的形状有哑铃型和圆柱型2种,其尺寸为微米级,并且熔桥断开时具有针尖状的特征;熔桥行为会侵蚀触头表面形成具有熔池和凸丘等特征的表面特征;熔桥的直径和长度随电流的增大均呈现出先增大后减小的趋势,在熔桥形成之前可能有电弧出现,在DC 6 V的分断电恪下,钯触头材料的理想工作电流不宜大于14 A.