电阻测试法研究Zr55Cu30Al10Ni5非晶合金的晶化过程

• 作者: 刘斌斌 叶丰 左宁宁
• 来源期刊: 稀有金属
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻 等温晶化 孕育期 Johnson-Mehl-Avrami模型 Avrami指数
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 992-996
• 页数: 5页
• 分类号: TG139
• 语种: 中文
• DOI: 10.13373/j.cnki.cjrm.XY16021201

摘要

用四探针电阻测量法研究Zr55 Cu30 Al10 Ni5非晶合金的等温晶化行为.该非晶合金的晶化过程只包括一个晶化阶段.在晶化过程中,随着等温温度的升高,孕育期会减小,且完成晶化所需的时间变短,726,731和736 K时的孕育期分别为1120,935和335 s,完成晶化的时间分别为3500,2620和1500 s.通过电阻随等温时间的变化曲线可以得到某一时刻的晶化体积分数X(t),不同温度下晶化体积分数随等温时间的变化曲线均呈典型的"S"型.等温晶化动力学行为符合Johnson-Mehl-Avrami模型.在726,731和736 K等温时,Avrami指数分别为2.5,1.5和1.7,均在1.5和2.5之间,表明晶化过程是形核速率减小的长大过程.随着等温时间的增加,起初局域Avrami指数几乎不变,当等温时间增加到一定程度时,局域Avrami指数开始逐渐减小.随着等温温度的升高,局域Avrami指数降低的越明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶丰	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	30	309	8.0	17.0
2	刘斌斌	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	4	12	2.0	3.0
3	左宁宁	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	1	3	1.0	1.0