一种容SEU的新型自恢复锁存器

• 作者: 付俊超 易茂祥 梁华国 欧阳一鸣 闫爱斌 黄正峰
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 单粒子翻转 时钟门控 加固锁存器
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 电路与系统设计
• 页码范围: 685-689,694
• 页数: 6页
• 分类号: TN79|TN406
• 语种: 中文

摘要

针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器.采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SEU能够实现自恢复,可用于时钟门控电路.采用高速通路设计和钟控设计,以减小延迟和降低功耗.相比于HLR-CG1,HLR-CG2,TMR,HiPer-CG锁存器,该锁存器的功耗平均下降了44.40％,延迟平均下降了81％,功耗延迟积(PDP)平均下降了94.20％,面积开销平均减少了1.80％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
4	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
5	闫爱斌	安徽大学计算机科学与技术学院	7	4	1.0	1.0
6	付俊超	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	1	1.0	1.0