线阵列扬声器垂直指向性的消声室测试

• 作者: 陈国斌 龚惠哲
• 来源期刊: 电声技术
• 学科: 工学
• 关键词: 线阵列 垂直指向性 消声室 副极大瓣 辐射面填充率
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 扬声器与传声器
• 页码范围: 34-40
• 页数: 7页
• 分类号: TN643
• 字数: 4230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16311.j.audioe.2017.h9.05

摘要

在消声室环境下测试了三款线阵列扬声器样品的垂直指向性.结果显示中高频段在主瓣以外方向角位置的辐射强度衰减量仅为10 dB或以下,原因是扬声器箱体之间无辐射间隙的栅格干涉效应,形成副极大瓣,其所在的方向角位置与理论计算结果基本吻合,并且由于扬声器箱体及辐射单元的物理结构限制,辐射面填充率难以进一步提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈国斌	华南理工大学建筑学院亚热带建筑科学国家重点实验室	3	1	1.0	1.0
5	龚惠哲		2	1	1.0	1.0