基于C8051的片上调试单元设计

• 作者: 俞小平 唐映强 李世伟
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 片上调试 C8051
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 19-21,25
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 1581字
• 语种: 中文

摘要

随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的.当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要.基于C8051 IP设计了一个片上调试单元,将调试功能集成到单片机内部.通过配置不同的操作指令,该片上调试单元可实现断点指令、地址断点、停止及单步执行程序、数据观察点、运行到光标处等调试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞小平		1	1	1.0	1.0
2	唐映强		1	1	1.0	1.0
3	李世伟		1	1	1.0	1.0