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三维封装中的并行键合线信号仿真分析
三维封装中的并行键合线信号仿真分析
作者:
周云燕
曹立强
王祺翔
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
键合线
系统级封装
DDR
单端信号
差分信号
摘要:
当今便携式设备的速率可达数吉比特每秒,但是其通道的频宽限制其性能.在所有芯片与基板的传输结构中键合线是最常用的,但却渐渐成为了带宽主要的限制.基于一款高密度布线系统级封装的研发项目,使用全波电磁场仿真工具进行建模分析,研究了不同参数对键合传输线DDR单端信号与差分信号传输质量的影响.最终通过键合线设计的优化,仿真结果通过了眼图的验证.
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
三维封装中的并行键合线信号仿真分析
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
键合线
系统级封装
DDR
单端信号
差分信号
年,卷(期)
2017,(3)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
13-18
页数
6页
分类号
TN403
字数
4125字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
周云燕
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3.0
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曹立强
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
键合线
系统级封装
DDR
单端信号
差分信号
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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