简述IC测试的意义和作用

• 作者: 毕威
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: IC测试 集成电路 计量测试 验证测试 半导体 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 6-8,12
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 3576字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2017.01.002

摘要

IC测试技术是有着四十多年历史的一项应用科学技术,其适应整个IC产业的需求在神州大地悄然兴起,展望未来必将促进集成电路测试业的形成和发展,集成电路设计、制造、封装和测试四业并举,使我国集成电路产业健康发展,为信息产业打下坚实的基础.IC测试技术伴随着集成电路的飞速发展而发展,对促进集成电路的进步和广泛应用作出了巨大贡献,各个军工行业的研究院、所、厂都有自己的元器件检测中心,并引进先进的国产、进口各类高性能集成电路测试设备,负责集成电路在军工行业应用的质量把关.随着IC测试成本的不断提高,验证测试成为集成电路制造中的必要环节.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毕威	中国电子科技集团公司第四十七研究所	2	13	2.0	2.0