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摘要:
当前集成电路设计和制造方面的发展速度很快,集成电路规模和水平不断提高,也促进了相应的测试技术的发展.集成电路交流参数的准确性已经成为影响集成电路性能的重要因素.介绍了交流参数测试的基本概念和原理,简述了基于TR6836测试系统对交流参数测试的具体方法、流程以及测试程序开发等内容,并以74HC04为例进行了测试,对交流参数的两种测试方法——搜索法和功能验证法进行了对比和分析.
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文献信息
篇名 基于ATE的集成电路交流参数测试方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 集成电路 交流参数 自动测试
年,卷(期) 2017,(3) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 10-12,18
页数 4页 分类号 TN407
字数 2177字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙莉莉 1 2 1.0 1.0
2 李楠 1 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
交流参数
自动测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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