一种具有锁定检测结构的新型抗SET效应DLL设计技术

• 作者: 吴龙胜 曹天骄 李海松 韩本光
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 延迟锁相环 电荷泵 SET加固 锁定检测结构
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 页码范围: 77-81
• 页数: 5页
• 分类号: TN432
• 语种: 中文

摘要

针对延迟锁相环的结构和对单粒子效应敏感性的分析,提出了一种具有锁定检测结构的新型抗SET加固DLL结构,该结构能在满足原有DLL性能指标的前提下实现对SET效应的加固,保证DLL正交四相时钟的正确输出.基于65 nm CMOS工艺进行电路设计仿真,结果显示在500 MHz工作频率下,此DLL功能正确,抗SET性能良好,SET阈值达到100 MeV·cm2/mg,在空间辐射环境中具有很好的稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李海松		9	106	3.0	9.0
2	吴龙胜		50	120	6.0	8.0
3	韩本光		7	14	2.0	3.0
4	曹天骄		2	5	1.0	2.0