利用X射线荧光光谱技术检测有害物质

• 作者: 乐永康 姚红英 林汉冰
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 RoHS检测 有害物质
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 近代与综合实验
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: O567.34
• 字数: 3403字
• 语种: 中文

摘要

在X射线荧光光谱仪实验教学探索中,利用XRF检测实验室材料、食品、化妆品等含有的有害物质,使学生了解相关的RoHS检测标准和XRF原理,并尝试利用XRF技术对金属材料做定量分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乐永康	复旦大学物理学系	29	175	7.0	12.0
2	姚红英	复旦大学物理学系	14	36	4.0	5.0
3	林汉冰	复旦大学物理学系	2	9	2.0	2.0