大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析

• 作者: 井红旗 倪羽茜 刘素平 王文知 王翠鸾 祁琼 马骁宇
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 步进加速应力 指数分布
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 165-169
• 页数: 5页
• 分类号: TN248.4|TN306
• 字数: 1813字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20173802.0165

摘要

对自主研发的975 nm波长的COS封装的大功率半导体单管激光器进行了10,12,14 A的电流步进加速应力试验,应用逆幂律模型和指数分布的理论对试验结果进行了分析,计算出在8A的电流下,器件的平均寿命为28 999 h.研究了器件的失效形式和老化前后的温升、偏振度的变化,结果表明:失效形式主要有体内退化、腔面退化、与焊接有关的退化;老化后的器件的结温上升增多,偏振度下降10％左右.