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摘要:
研发了一种无氧化剂无抑制剂的新型碱性TSV精抛液,通过单因素实验确定FA/O I型非离子表面活性剂和有机胺碱的体积分数,以使Cu/Ti/SiO2的去除速率满足选择比.根据表面活性剂的优先吸附理论来降低碟形坑内部反应界面的能量,同时运用大分子有机胺碱的自钝化原理来控制碟形坑的延伸,使用HP&MP&LP工作压力模式来解决通孔边界处的塌边问题.结果表明:当抛光液中FA/O I型非离子表面活性剂和大分子有机胺碱的体积分数分别为3.0%和1.5%时对Cu/Ti/SiO2的选择性最好.用优化后的抛光液在TSV图形片上进行了测试并比较了不同通孔间距下碟形坑的修正能力.台阶仪检测结果显示,优化后的抛光液对碟形坑的修正能力为1500~2000 nm·min-1,且对间距分别为20,40,60和80μm的4种通孔内碟形坑的修正能力均在1500 nm·min-1以上,当HP&MP&LP模式中3个阶段的持续时间分别为总抛光时间的50%,30%和20%时塌边现象得到解决.
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文献信息
篇名 新型Cu/Ti/SiO2碱性精抛液对TSV碟形坑和塌边的修正
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 硅通孔 化学机械抛光 碟形坑 阻挡层 有机胺碱
年,卷(期) 2017,(12) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1359-1368
页数 10页 分类号 TN305.2
字数 语种 中文
DOI 10.13373/j.cnki.cjrm.XY16080010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘玉岭 河北工业大学电子信息工程学院天津市电子材料与器件重点实验室 263 1540 17.0 22.0
2 牛新环 河北工业大学电子信息工程学院天津市电子材料与器件重点实验室 69 406 10.0 17.0
3 王如 河北工业大学电子信息工程学院天津市电子材料与器件重点实验室 44 252 8.0 14.0
4 刘俊杰 河北工业大学电子信息工程学院天津市电子材料与器件重点实验室 12 36 3.0 5.0
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