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摘要:
在HL-2A装置上采用石英晶体微天平(QCM)测量碳元素及其化合物的沉积质量,从测量的数据可知,每次等离子体放电后QCM的沉积量都会有细微变化,每次放电测得的沉积质量约为0.1~10μg.沉积量的变化与沉积物质再腐蚀或者溅射有关.根据一天的测量结果,可以计算得出HL-2A装置偏滤器区域平均每次放电(非H模放电)的沉积厚度约为10nm.
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文献信息
篇名 石英晶体微天平在HL-2A装置上的应用
来源期刊 核聚变与等离子体物理 学科 工学
关键词 石英晶体微天平 沉积 HL-2A装置 偏滤器 等离子体与材料的相互作用
年,卷(期) 2017,(2) 所属期刊栏目 等离子体物理学
研究方向 页码范围 144-151
页数 8页 分类号 TL65+9
字数 4521字 语种 中文
DOI 10.16568/j.0254-6086.201702004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 才来中 6 12 2.0 3.0
2 曾晓晓 2 3 1.0 1.0
3 吴婷 2 3 1.0 1.0
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沉积
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偏滤器
等离子体与材料的相互作用
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1980
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