微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁硅铝磁芯中铝和硅

• 作者: 吴永明 杜效 杨倩倩 王继龙 郭飞飞 陶武
• 来源期刊: 冶金分析
• 关键词: 微波消解 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 铁硅铝磁芯 铝 硅
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 页码范围: 69-74
• 页数: 6页
• 字数: 3525字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010112

摘要

使用盐酸-硝酸-氢氟酸并采用微波消解法处理样品,选择Al 308.215 nm和Si 212.412 nm作为分析线,基体匹配法配制标准溶液系列绘制校准曲线,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铝和硅,从而建立了微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铁硅铝磁芯中铝和硅的方法.结果表明,铝和硅的质量分数分别为1.00%~9.00%和2.50%~12.50%时与其发射强度呈线性,线性相关系数均不小于0.999 4;方法中铝和硅的检出限分别为0.020%和0.021%(质量分数).实验方法应用于铁硅铝磁芯样品中铝和硅的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=6)为1.4%~2.2%;将测定结果与滴定法(测定铝)和重量法(测定硅)的测定结果进行比对,二者相吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴永明	北京科技大学化学分析中心	8	18	3.0	3.0
2	郭飞飞		6	13	3.0	3.0
3	杨倩倩		10	23	3.0	4.0
4	陶武	北京科技大学化学分析中心	8	15	3.0	3.0
5	杜效		2	4	1.0	2.0
6	王继龙		1	3	1.0	1.0