基于LabVIEW的露点校验系统设计

• 作者: 王森 王洋 蒋书波
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 自动化技术 校验系统 分流法 露点发生器
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 1257-1261
• 页数: 5页
• 分类号: TP29
• 字数: 3259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2017.05.039

摘要

为实现露点测量设备的高效校验,在分流法原理基础上设计了一套基于LabVIEW的露点校验系统,本系统通过发生较为精准的露点并采集送检设备的露点测量信息,实现送检设备的准确性校验.本系统基于LabVIEW软件平台设计实现露点校准系统的上位机功能,包括露点控制、协议设定、数据记录等;由下位机实现流量控制、信号采集反馈以及数据传输等功能.该系统已应用于实际露点测量设备的校验,结果表明可发生露点范围-70℃~20℃,精度优于0.15℃.