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本地化电磁危害
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摘要：
从本地化有源电磁辐射和电路结构边缘对于外场扰动的角度出发,提出一种本地化电磁危害(Localized Electromagnetic Hazards—LEH)的新概念.基于相关模型的分析可知,LEH不仅存在,而且对于电子系统、微电子系统中的板级和超大规模集成电路(VLSI)等有显著的相关和非相关电路效应.
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期刊影响力
安全与电磁兼容
主办单位：
中国电子技术标准化研究院
出版周期：
双月刊
ISSN：
1005-9776
CN：
11-3452/TM
开本：
大16开
出版地：
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
邮发代号：
82-295
创刊时间：
1989
语种：
chi
出版文献量（篇）
2498
总下载数（次）
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总被引数（次）
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