温度循环下IGBT瞬态热阻抗退化模型的研究

• 作者: 姚芳 李志刚 王少杰 陈盛华
• 来源期刊: 电气传动
• 学科: 工学
• 关键词: 退化模型 瞬态热阻抗 温度循环 绝缘栅双极型晶体管
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 77-80
• 页数: 4页
• 分类号: TN32
• 字数: 2518字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19457/j.1001-2095.20170217

摘要

瞬态热阻抗是表征IGBT模块热特性的重要参数,瞬态热阻抗的退化可以反映模块材料的退化,因此研究IGBT瞬态热阻抗的退化模型对IGBT状态评估、寿命预测等研究有重大意义.利用温度循环老化实验装置对IGBT进行温度循环冲击老化,再利用瞬态热阻抗测试平台测试老化进程中IGBT的瞬态热阻抗曲线,得到模块的退化情况.最后分析实验结果建立IGBT瞬态热阻抗退化数学模型,得到瞬态热阻抗的退化规律.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	姚芳	河北工业大学电气工程学院	42	270	10.0	15.0
3	陈盛华	河北工业大学电气工程学院	14	36	4.0	5.0
4	王少杰	河北工业大学电气工程学院	7	56	4.0	7.0