功率模块IGBT失效机理与寿命预测研究综述

• 作者: 刘雪婷 张树冰
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT 可靠性 失效机理 预测模型
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 19-21,26
• 页数: 4页
• 分类号: TN31
• 字数: 3322字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-289X.2017.05.005

摘要

功率模块IGBT作为全控型器件的代表,现已迅速扩展了其在各个领域的应用,根据相关调查研究发现,功率模块IGBT失效相对于其他部分更为突出.对IGBT的寿命进行预测对于评估电力系统可靠性具有重大的现实意义.本文通过总结综述了其主要的失效机理,分析其失效的原因,并通过不同的失效机理,对现有寿命预测模型进行解释说明,同时分析不同预测模型在实际使用中的优缺点及精确度.最后对于未来进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘雪婷	三峡大学电气与新能源学院	2	3	1.0	1.0
2	张树冰	三峡大学电气与新能源学院	3	3	1.0	1.0