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电子电路制作过程人为故障的分析与对策
电子电路制作过程人为故障的分析与对策
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摘要：
本文从电子电路制作过程人为故障的原因入手,着重分析了电子电路制作过程对人为制作行为的要求,并探索了电子电路制作过程人为故障的对策.
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关于电子电路制作中人为故障的分析及处理对策探讨
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人为故障
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S变换
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故障诊断
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研究主题发展历程
节点文献
电子电路
制作过程
人为故障
对策
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
总下载数（次）
63
总被引数（次）
36145
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