使用全场数据确定光弹材料条纹值的方法

• 作者: 刘晓蒙 戴曙光
• 来源期刊: 光学仪器
• 学科: 物理学
• 关键词: 光弹性法 条纹值 等差线 相移法
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 27-32
• 页数: 6页
• 分类号: O348.1
• 字数: 2998字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5630.2017.03.006

摘要

光弹性实验中,材料条纹值是联系光学现象和材料应力的唯一参数,因而在每次实验前计量材料条纹值是非常必要的.条纹值的精确性与选取的实验计量点有密切的关联,同时应考虑残余双折射和残余应力的影响.根据实验获取的全场数据,在试件中选取多个点构成超定方程组,结合相移技术,运用最小二乘法确定材料条纹值.这种方法不仅能够确定条纹值,而且可以得到试样中残余应力的参数.最后,通过聚碳酸酯受压圆盘实验,验证了新方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴曙光	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	166	839	14.0	22.0
2	刘晓蒙	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	5	2	1.0	1.0