GaAs衬底共面波导S参数标准样片研制

• 作者: 张旭勤 张继平 殷玉喆 高猛
• 来源期刊: 微波学报
• 关键词: 微波探针 校准 砷化镓(GaAs) 共面波导 S参数
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 44-49
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.14183/j.cnki.1005-6122.201705009

摘要

GaAs等固态微波裸芯片电性能测试需要采用探针将共面波导参考面过渡到同轴参考面.设计制作了用于微波探针校准的GaAs衬底的计量级标准样片,包括SOLT和TRL校准模块,以及匹配传输线、衰减及驻波等验证模块.提出了平衡电桥结构,兼具衰减驻波标准,带内平坦,且工艺适应性好.经过与国外校准片比对,验证了频率覆盖100 MHz～ 50 GHz,驻波比测量范围:1.1,1.5,2.5,5,10;衰减测量范围:-1 dB,-2 dB,-3 dB,-10 dB,-20dB,-30 dB,-40dB;匹配负载反射损耗小于-30 dB.同时提取了SOLT校准模块的矢网校准用参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高猛		6	6	2.0	2.0
2	殷玉喆		4	20	2.0	4.0
3	张继平		2	6	2.0	2.0
4	张旭勤		1	2	1.0	1.0