微波器件射频动态老化系统研究

• 作者: 彭浩 迟雷 陈龙坡 黄杰
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波器件 射频动态老化试验 负反馈电路 功率监测
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 技术专栏
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 字数: 2222字
• 语种: 中文

摘要

随着微波器件的发展应用领域的扩展,对其可靠性的要求也越来越高.在微波器件的可靠性评估试验中,射频动态老化试验是最重要的试验之一.而试验系统的可靠性,经济性和实用性直接影响到可靠性评估的安全性和准确性.本文选取微波混频器为研究对象,设计并搭建了射频动态老化系统,在设计中加入了负反馈电路以保证系统的稳定性.基于虚拟仪器软件和数据采集卡,上位计算机可实时采集海量状态信息,如直流参数和射频参数.通过微波器件软硬件平台验证表明,该系统可以很好的完成微波器件的动态老化过程,较传统的静态老化系统有很大的改进和提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭浩	中国电子科技集团公司第十三研究所	12	5	1.0	2.0
3	黄杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	16	17	2.0	4.0
9	迟雷	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	4	1.0	2.0
13	陈龙坡	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	0	0.0	0.0