卫星导航抗干扰A/D芯片的可测试性设计

• 作者: 舒钰
• 来源期刊: 现代导航
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 故障覆盖率 扫描链
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 专题研讨vv
• 页码范围: 210-213
• 页数: 4页
• 分类号: TN965
• 字数: 1148字
• 语种: 中文

摘要

ASIC集成电路设计开发中的瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困难,本文详细介绍了基于130nm工艺的卫星导航抗干扰A/D芯片的可测性设计,并从测试的覆盖率、成本等方面提出了优化改进方案,该方案的测试覆盖率最高可达99.93%,并缩减了测试时间和成本,该芯片顺利通过量产,证明了可测试性设计的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	舒钰	中国电子科技集团公司第二十研究所	5	4	2.0	2.0