质量风险分配在电子元器件选型中的应用

• 作者: 支越 梅强 王之哲 王小强
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 地球科学
• 关键词: 电子元器件 选型 质量风险 分配 复杂度 重要度
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 84-87
• 页数: 4页
• 分类号: N945.17
• 字数: 3504字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2017.03.017

摘要

电子元器件作为整机系统的基础和重要组成部分,其质量与可靠性直接制约整机系统的最终表现.提出了一种基于复杂度和重要度的质量风险层次化分配方法,通过把整机的质量风险指标合理分配至每个组成单元,为整机单位的电子元器件选型提供借鉴和支撑,有效保障整机系统的质量与可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梅强	江苏大学管理学院	320	5024	34.0	57.0
2	王小强		35	41	3.0	4.0
3	王之哲		13	6	1.0	2.0
4	支越	江苏大学管理学院	8	6	1.0	2.0