希捷瓦记录磁盘评测

• 作者: 刘振军 张强 李猛坤 董欢庆 马留英
• 来源期刊: 高技术通讯
• 关键词: 瓦记录(SMR) 瓦记录磁盘 写覆盖 原地更新
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 计算机与通信技术
• 页码范围: 416-425
• 页数: 10页
• 字数: 6489字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2017.05.005

摘要

分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录(SMR)技术的优势及局限性,指出SMR 采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度, 但是这也带来了写覆盖(Write Overlay)问题,即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据,导致瓦记录磁盘(SWD)无法支持原地更新,使其非顺序写性能受到影响.为了促进该技术的应用,通过Fio和Filebench测试工具,对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘(SSWD)做了比较全面的测试,并对多种应用场景下SSWD 的性能做了详细的测试和分析,以便为SSWD在数据中心的应用提供重要的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张强	中国科学院计算技术研究所	194	3858	32.0	57.0
5	马留英	中国科学院计算技术研究所	3	2	1.0	1.0
9	董欢庆	中国科学院计算技术研究所	9	12	2.0	3.0
10	刘振军	中国科学院计算技术研究所	16	92	4.0	9.0
11	李猛坤	首都师范大学管理学院	3	6	2.0	2.0