大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用

• 作者: 朱江 章慧彬
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试程序 ATE 参数测试 功能测试
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 10-15
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 5447字
• 语种: 中文

摘要

集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程.而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集成电路测试程序开发技术就显得非常重要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章慧彬		12	31	4.0	5.0
2	朱江		8	24	3.0	4.0