焊接接头典型缺陷的数字X射线尺寸测量技术

• 作者: 康平 袁生平 高雅
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 工学
• 关键词: 焊接接头 半波高法 数字X射线检测 MTF 空间分辨率 典型缺陷
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 86-90
• 页数: 5页
• 分类号: TG1
• 字数: 2268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12044/j.issn.1007-2330.2017.04.019

摘要

为了准确测量焊接接头典型缺陷的尺寸,提出了一种基于半波高法(HWH)的焊接接头缺陷数字射线尺寸测量技术.首先,分析了数字射线检测系统的调制传递函数(MTF),确定了检测系统的空间分辨率.其次,对焊接接头的典型缺陷进行模拟,通过半波高法测量其尺寸.结果表明:依据瑞利判据,运用双丝像质计测定该检测系统的空间分辨率为4.5 Lp/mm;运用该方法测量焊接接头缺陷尺寸,与实际尺寸基本相符,误差小于6.3％,该方法避免了人为因素的影响,精度可满足日常产品的检测需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康平		2	1	1.0	1.0
2	高雅		1	1	1.0	1.0
3	袁生平		5	7	1.0	2.0