孤独症谱系障碍儿童表情面孔工作记忆的事件相关电位研究

• 作者: 叶俊 张玲 林琼希 潘宁 许才娟 金宇 静进
• 来源期刊: 中国当代儿科杂志
• 关键词: 孤独症谱系障碍 表情面孔 工作记忆 事件相关电位 儿童
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 论著·临床研究
• 页码范围: 280-285
• 页数: 6页
• 字数: 5082字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7499/j.issn.1008-8830.2017.03.006

摘要

目的 探讨孤独症谱系障碍(ASD)儿童表情面孔工作记忆能力及其事件相关电位(ERP)的特点.方法 以中国面孔表情图片系统为测试材料,采用事件相关电位系统分别记录16例6～12岁ASD儿童(ASD组)与14例年龄匹配的正常儿童(对照组)在完成表情面孔延迟样本匹配任务时的脑电成分,分析两组儿童脑电P3b成分的特点.结果 ASD组儿童在表情面孔工作记忆任务中的总体反应时比对照组长(1527 msvs 1060 ms,P＜0.05)、正确率比对照组低(76％ vs 88％,P＜0.01).ASD组和对照组间编码加工阶段的P3b成分波幅存在差异.ASD组左侧电极的P3b成分波幅值高于右侧电极波幅(P＜0.05),而对照组无此特点.结论 学龄期ASD儿童在表情面孔编码加工阶段的P3b成分异于正常发育儿童,其表情面孔工作记忆过程可能更多地依赖于左半球相关的神经通路.