10kV电缆局部放电老化过程的Weibull统计分析

• 作者: 徐阳 时亨通 陈浩 霍小晶
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 局部放电 Weibull分布 电缆接头 老化过程
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 页码范围: 72-78
• 页数: 7页
• 分类号: TM247|TM855
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2017.09.015

摘要

使用Weibull分布概率模型对局部放电幅度分布(PDHD)谱图进行特征参数拟合,局部放电实验在10 kV XLPE电缆接头中人工预制的主绝缘断口气隙缺陷中进行,研究施加电压、老化时间以及电缆负荷波动引起的温度变化等实验条件对缺陷气隙老化过程的影响.结果表明:PDHD测量数据在Weibull概率图中能拟合成一条直线,而在老化程度到达严重阶段时与拟合直线出现偏差.Weibull函数的形状参数β随着老化过程的加剧,如更高的施加电压、更长时间的老化以及温度的升高等老化因素,呈现出下降的趋势.形状参数β可作为老化过程对局部放电活动影响的表征参量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐阳	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	69	794	15.0	26.0
2	陈浩	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	22	173	7.0	13.0
3	时亨通		6	7	2.0	2.0
4	霍小晶		1	4	1.0	1.0