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摘要:
为减少、消除由于光照空间和相机空间采样密度不匹配造成的走样现象,提出一种亚像素级准确的硬阴影反走祥绘制方法.该方法从光源视角抽取场景前表面的几何图元,利用保守光栅化方法存储固定大小、局部近似的场景可见三角形;计算纹素的顶点坐标,检测跨纹素几何图元,精确重建阴影测试深度.测试实验表明,几何图元覆盖检测算法能准确检测出纹素中包含的90%以上的隐含三角形,算法有较好的适应性,能有效减少阴影图算法的走样问题.
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文献信息
篇名 基于亚像素级几何图元覆盖检测算法
来源期刊 系统仿真学报 学科 工学
关键词 阴影图 硬阴影 亚像素 反走样 图元
年,卷(期) 2017,(11) 所属期刊栏目 仿真建模理论与方法
研究方向 页码范围 2723-2730,2741
页数 9页 分类号 TP391.1
字数 语种 中文
DOI 10.16182/j.issn1004731x.joss.201711018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨华民 长春理工大学计算机科学技术学院 93 612 13.0 20.0
3 韩成 长春理工大学计算机科学技术学院 44 338 11.0 16.0
5 李华 长春理工大学计算机科学技术学院 48 125 7.0 9.0
7 赵建平 长春理工大学计算机科学技术学院 51 284 9.0 15.0
传播情况
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阴影图
硬阴影
亚像素
反走样
图元
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系统仿真学报
月刊
1004-731X
11-3092/V
大16开
北京市海淀区永定路50号院
82-9
1989
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