嵌入式电子信息系统可靠度优化

• 作者: 卫琳 吕丽平 白鑫
• 来源期刊: 沈阳工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式 电子信息系统 可靠度优化 计算方法 建模 密度函数 约束模型
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 信息科学与工程
• 页码范围: 417-421
• 页数: 5页
• 分类号: TP23
• 字数: 4302字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7688/j.issn.1000-1646.2017.04.11

摘要

针对传统的可靠度优化方法一直存在优化不准确的问题,提出一种新的嵌入式电子信息系统可靠度优化方法.通过分析嵌入式电子信息系统的工作原理,分别对嵌入式电子信息系统故障密度函数、失效率、平均寿命、可用度进行优化,建立嵌入式电子信息系统可靠度约束模型,计算出最优状态下的可靠度参数.测试实验结果证明,采用提出的可靠度优化方法对嵌入式系统进行优化,系统的使用寿命、建模准确度、可用度均有一定的提高,具有一定的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卫琳	郑州大学软件与应用科技学院	55	433	12.0	18.0
2	吕丽平	郑州升达经贸管理学院信息工程系	20	36	4.0	5.0
3	白鑫	郑州升达经贸管理学院信息工程系	12	41	5.0	6.0