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输出电容对LDO稳定性影响分析
输出电容对LDO稳定性影响分析
作者:
何光旭
王彬
马文超
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
LDO
前馈补偿
输出电容补偿
摘要:
由于线性调节器内部没有开关管产生的交流开关损耗,同时比开关电源具有较低的RFI干扰,因此在现代电源系统中,仍然有它的一席之地.低压降集成线性稳压器即LDO是线性调节器的一种,一般采用P-FET或者PNP作为调整管,导通压降可以小于100 mV,效率得到大大提升,在射频、无线、电池供电等领域得到广泛应用,但必须对其做环路补偿,才能稳定工作.首先讨论了内部补偿、前馈电容补偿和输出电容补偿之间的关系,然后给出如何选择输出电容,最后以某输出可调LDO为例做仿真,说明输出电容对LDO稳定性的影响.
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文献信息
篇名
输出电容对LDO稳定性影响分析
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
LDO
前馈补偿
输出电容补偿
年,卷(期)
2017,(8)
所属期刊栏目
电路设计
研究方向
页码范围
29-32
页数
4页
分类号
TN432
字数
2016字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王彬
中国电子科技集团公司第五十八研究所
20
48
4.0
5.0
2
何光旭
中国电子科技集团公司第五十八研究所
3
5
2.0
2.0
3
马文超
中国电子科技集团公司第五十八研究所
1
3
1.0
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2019(3)
引证文献(2)
二级引证文献(1)
2020(3)
引证文献(0)
二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
LDO
前馈补偿
输出电容补偿
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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