温度和放电深度对钠硫电池欧姆内阻的影响

• 作者: 刘宇 鲍剑明 龚明光
• 来源期刊: 电池
• 学科: 工学
• 关键词: 钠硫电池 欧姆内阻 温度 放电深度(DOD)
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 科研论文
• 页码范围: 69-71
• 页数: 3页
• 分类号: TM911.3
• 字数: 1949字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19535/j.1001-1579.2017.02.002

摘要

钠硫电池的欧姆内阻与温度和放电深度(DOD)密切相关.通过不同温度下的脉冲放电实验,测量不同DOD时钠硫电池的欧姆内阻.除DOD为100％外,在某一固定DOD下,欧姆内阻随着温度的降低而增大.在某一固定温度下,DOD为0 ～7.14％时,随着DOD增加,β”-氧化铝陶瓷管外表面高阻抗的硫单质层被消耗,造成欧姆内阻逐渐减小;DOD为7.14％～ 85.70％时,欧姆内阻基本恒定;DOD为85.70％～100％时,随着DOD增加,电池负极有效反应面积减小,欧姆内阻急剧增大.DOD为7.14％ ～57.14％时,钠硫电池的开路电压为2.065～2.079 V,具有良好的功率特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宇		7	12	2.0	3.0
3	龚明光		4	16	2.0	4.0
5	鲍剑明		5	17	2.0	4.0