InAlAs/InGaAs/InAlAs量子阱质子辐照损伤机理

• 作者: 丁芃 吉慧芳 孙树祥 李玉晓 王海丽 金智 钟英辉 魏志超
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 高电子迁移率晶体管 质子辐照 空位缺陷 非电离能量损失
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 页码范围: 151-155,161
• 页数: 6页
• 分类号: TN304.2
• 字数: 3209字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2017.04.026

摘要

对InP基高电子迁移率场效晶体管关键的InAlAs/InGaAs/InAlAs量子阱结构质子辐照损伤机理进行了研究.基于SRIM软件计算了50keV、75keV和200keV质子在量子阱中的投影射程和诱生空位缺陷信息.随着质子能量增加,质子注入深度逐渐增加并最终逃逸出材料层.另外,在异质结附近诱生的空位缺陷个数先增加后减小,且As空位为主要的诱生缺陷.基于解析模型计算了不同能量质子入射下In0.52Al0.48As和In0.53Ga0.47As材料的非电离能量损失.随着质子能量增加,非电离能量损失先增加后减小,与辐照诱生缺陷密度随能量的变化趋势一致.最后通过辐照陷阱模型验证了诱生缺陷作为受主补偿中心对量子阱二维电子气的俘获作用,确定了非电离能量损失诱生空位缺陷为质子辐照主要的损伤机制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王海丽	郑州大学物理工程学院	13	22	3.0	4.0
2	李玉晓	郑州大学物理工程学院	42	118	6.0	8.0
3	金智	中国科学院微电子研究所	30	92	5.0	8.0
4	钟英辉	郑州大学物理工程学院	6	17	2.0	4.0
5	吉慧芳	郑州大学物理工程学院	6	13	2.0	3.0
6	孙树祥	郑州大学物理工程学院	2	3	1.0	1.0
7	丁芃	中国科学院微电子研究所	3	7	2.0	2.0
8	魏志超		3	9	2.0	3.0