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摘要:
提出一种新的基于V4系列FPGA全局时钟缓冲器的内建自测试方法.目前关键时钟缓冲器内建自测试正面临巨大的挑战,时序问题是目前发现的时钟缓冲器内建自测试的主要问题.由于时钟缓冲器输入端的同步开关会产生不同的相移,使得正常的器件内建自测试中产生故障指示.此外,目前时钟缓冲器内建自测试使用的是普通的布线资源连接时钟信号,而不是使用专用的时钟布线资源,这种方法会加剧时序问题.提出一种改良的方法去解决内建自测试的时序问题,并讨论这种方法对于可测试的最大时钟频率和总测试时间的影响.所有测试环节均在V4系列FPGA上实现.
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文献信息
篇名 V4系列FPGA全局时钟缓冲器的内建自测试研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 内建自测试 时钟树
年,卷(期) 2017,(8) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 8-12
页数 5页 分类号 TN407
字数 2557字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 董宜平 中国电子科技集团公司第五十八研究所 9 12 2.0 3.0
2 谢达 中国电子科技集团公司第五十八研究所 8 9 2.0 3.0
3 宋林峰 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2 3 1.0 1.0
4 周道逵 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
内建自测试
时钟树
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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