二氧化硅纳米流体在储集层微粒运移控制中的应用

• 作者: HASANNEJADA Reza POURAFSHARY Peyman SAMENI Abdolhamid VATANI Ali
• 来源期刊: 石油勘探与开发
• 学科: 工学
• 关键词: 微粒运移 临界流速 二氧化硅纳米颗粒 表面粗糙度
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 石油工程
• 页码范围: 802-810
• 页数: 9页
• 分类号: TE39
• 字数: 8005字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11698/PED.2017.05.16

摘要

利用SiO2纳米流体开展岩心驱替实验,通过注入SiO2纳米流体改变孔壁的表面性质,加强颗粒与孔壁间的吸引力,克服水动力排斥力,以提高临界流速,控制储集层中微粒运移、提高注液速度.在注水过程中注入SiO2纳米颗粒控制微粒的运移,有助于设计更高的产/注液速度.驱替实验结果表明质量分数为0.1％的SiO2纳米流体控制微粒运移的性能最好,可将微粒运移量降低80％.增加注入流体的盐度并不能改善纳米流体控制微粒运移的性能.通过测量岩心表面的Zeta电位,得知SiO2纳米颗粒由于带负电荷不能改变孔壁上的Zeta电位.原子力显微镜(AFM)分析证明,控制微粒运移的主要机理是SiO2纳米流体增加了孔壁的粗糙度,需要更大的水动力才能使多孔介质中的微粒开始移动.对于所有实验都计算了微粒上的总作用力和扭矩,理论结果与实验结果吻合,计算结果表明微粒主要以滚动机理从孔壁脱落.