FPD气相色谱法测定液晶材料中微量有机膦杂质

• 作者: 丁兴立 张鹏 耿红超 葛强 霍学兵 韩锦伟
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶材料 有机膦杂质 FPD
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 357-360
• 页数: 4页
• 分类号: O753+.2
• 字数: 1878字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20173205.0357

摘要

建立了一种液晶材料中微量有机膦杂质的FPD气相色谱分析测试方法,可以同时测试液晶材料中微量三苯基氧膦和三苯基膦杂质.方法重现性好,结果相对标准偏差(RSD,n=5)分别为 4.4%和5.6%,有机膦杂质的添加回收率为80%~110%.实验对于液晶材料工业化过程中膦成分的分析方法建立具有较好的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩锦伟		5	2	1.0	1.0
2	耿红超		4	2	1.0	1.0
3	霍学兵		7	2	1.0	1.0
4	丁兴立		2	2	1.0	1.0
5	张鹏		3	1	1.0	1.0
6	葛强		1	1	1.0	1.0