SF6断路器灭弧室发热缺陷分析

• 作者: 朱仁 朱文彬 范敏 郭文笔
• 来源期刊: 湖南电力
• 学科: 工学
• 关键词: SF6断路器 红外热成像 回路电阻
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 经验与探讨
• 页码范围: 58-60
• 页数: 3页
• 分类号: TM561.3
• 字数: 1877字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0198.2017.06.016

摘要

高压SF6断路器广泛应用于电力系统中,是电力系统中最重要的保护和控制设备,长期运行可能会出现发热缺陷.本文针对一起SF6断路器灭弧室发热缺陷进行了详细分析,利用红外热成像、 回路电阻测试判断缺陷,通过解体检测验证试验结论,缺陷原因为动触座与带状触指接触不良,最后针对SF6断路器发热缺陷提出了处理建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范敏	国网湖南省电力公司电力科学研究院	18	38	5.0	5.0
2	郭文笔		1	3	1.0	1.0
3	朱文彬		1	3	1.0	1.0
4	朱仁		1	3	1.0	1.0