快电子对快离子损失诊断测量的影响

• 作者: 吴承瑞 常加峰 林士耀 金钊 黄娟
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 闪烁体 快离子损失诊断 逃逸电子
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 核能科学与工程
• 页码范围: 85-90
• 页数: 6页
• 分类号: TL99
• 字数: 2358字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2017.hjs.40.110605

摘要

基于闪烁体原理的快离子损失探针(Fast Ion Loss Detector,FILD),可以同时测量损失快离子的能量和pitch-angle的值,是核聚变装置中对高能粒子诊断的重要方式.根据先进实验超导托卡马克(Experimental Advanced Superconducting Tokamak,EAST)的发展需求,为了更好地对损失快离子行为进行研究,设计并安装了快离子损失诊断,且探测到在中性束加热条件下产生的损失快离子.同时,探测到在放电中产生的逃逸电子,以及低杂波注入时快电子产生X射线对快离子损失背景信号的影响.并且在H-mode放电时边界扰动也对快离子损失信号产生影响,这些探测到的现象都为不断升级损失诊断系统提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄娟	中国科学院等离子体物理研究所	28	284	8.0	16.0
2	林士耀	中国科学院等离子体物理研究所	14	37	4.0	4.0
3	金钊	中国科学院等离子体物理研究所	15	239	8.0	15.0
7	常加峰	中国科学院等离子体物理研究所	7	0	0.0	0.0
8	吴承瑞	中国科学院等离子体物理研究所	1	0	0.0	0.0