吸附剂浓度对Cu(Ⅱ)/IIP-PAA/SiO2吸附体系的影响

• 作者: 乔欢欢 李瑞瑞 范忠雷 马翔宇
• 来源期刊: 郑州大学学报（工学版）
• 学科: 地球科学
• 关键词: 聚烯丙基胺 硅胶 浓度效应 Cu(Ⅱ) 吸附
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 化工与材料工程
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: X703
• 字数: 2928字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13705/j.issn.1671-6833.2017.03.003

摘要

采用表面印迹技术合成了铜离子印迹聚烯丙基胺硅胶材料(IIP-PAA/SiO2),通过静态实验研究了吸附剂浓度W0对Cu(Ⅱ)离子在IIP-PAA/SiO2材料上吸附的影响.结果表明,随着W0增加,Cu(Ⅱ)/IIP-PAA/SiO2体系的吸附等温线下降,吸附体系具有明显的吸附剂浓度效应.实验数据显示吸附剂的平衡吸附量Qe与液相平衡浓度Ce和吸附剂浓度W0之间具有相关性,通过Ce/W0(液相平衡离子浓度与吸附剂浓度的比值)因子来修正经典Langmuir模型参数,所得的修正Langmuir等温式能描述和预测不同吸附剂浓度W0水平下的平衡吸附量Qe,表明该修正模型具有合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范忠雷	郑州大学化工与能源学院	30	186	8.0	12.0
2	马翔宇	郑州大学化工与能源学院	5	14	2.0	3.0
3	乔欢欢	郑州大学化工与能源学院	6	24	3.0	4.0
4	李瑞瑞	郑州大学化工与能源学院	7	30	3.0	5.0