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多层片式瓷介电容器的ESR测试方法研究
多层片式瓷介电容器的ESR测试方法研究
作者:
曾铭衡
水春生
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
多层瓷介电容器
等效串联电阻
射频同轴谐振传输线法
射频阻抗分析仪
摘要:
介绍了两种常用的多层瓷介电容器ESR的测试方法.射频同轴谐振传输线法是国际标准的ESR测试方法,可用于低ESR的测试,但只能得到谐振频点的ESR值,局限性明显.利用射频阻抗分析仪进行ESR测试,能够得到ESR的频率特性曲线,但测试精度不高,不适用于低ESR的测试.
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文献信息
篇名
多层片式瓷介电容器的ESR测试方法研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
多层瓷介电容器
等效串联电阻
射频同轴谐振传输线法
射频阻抗分析仪
年,卷(期)
2017,(z1)
所属期刊栏目
计量与测试技术
研究方向
页码范围
83-86
页数
4页
分类号
TM534+.1|TM934.1
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2017.S1.016
五维指标
作者信息
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姓名
单位
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曾铭衡
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研究主题发展历程
节点文献
多层瓷介电容器
等效串联电阻
射频同轴谐振传输线法
射频阻抗分析仪
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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