原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
介绍了两种常用的多层瓷介电容器ESR的测试方法.射频同轴谐振传输线法是国际标准的ESR测试方法,可用于低ESR的测试,但只能得到谐振频点的ESR值,局限性明显.利用射频阻抗分析仪进行ESR测试,能够得到ESR的频率特性曲线,但测试精度不高,不适用于低ESR的测试.
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内容分析
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文献信息
篇名 多层片式瓷介电容器的ESR测试方法研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 多层瓷介电容器 等效串联电阻 射频同轴谐振传输线法 射频阻抗分析仪
年,卷(期) 2017,(z1) 所属期刊栏目 计量与测试技术
研究方向 页码范围 83-86
页数 4页 分类号 TM534+.1|TM934.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.S1.016
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1 曾铭衡 3 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
多层瓷介电容器
等效串联电阻
射频同轴谐振传输线法
射频阻抗分析仪
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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总被引数(次)
9369
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